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鍍層測厚

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能量色散X熒光光譜儀

型號:EDX 2000A
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產品說明、技術參數及配置

EDX2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動微區膜厚測試儀)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行快速對焦精準分析,滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動,雙激光定位和保護系統。

應用領域
電鍍行業、電子通訊、航天新能源、五金衛浴、電器設備
汽車制造、磁性材料、貴金屬電鍍、高校及科研院所等

超高硬件配置
采用Fast-SDD探測器,高達129eV分辨率,能精準地解析每個元素的特征信號,針對復雜底材以及多層復雜鍍層,同樣可以輕松測試。
搭配大功率X光管,能很好的保障信號輸出和激發的穩定性,減少儀器故障率。
高精度自動化的X、Y、Z軸的三維聯動,更精準快速地完成對微小異型(如弧形、拱形、螺紋、球面等)測試點的定位。

設計亮點
上照式設計,可適應更多異型微小樣品的測試。相較傳統光路,信號采集效率提升2倍以上??勺兘垢呔珨z像頭,搭配距離補正系統,滿足微小產品,臺階,深槽,沉孔樣品的測試需求??删幊套詣游灰破脚_,微小密集型可多點測試,大大提高測樣效率。自帶數據校對系統。

軟件界面
人性化的軟件界面,讓操作變得更加便捷。
曲線的中文備注,讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實時監控,讓您的使用更加放心。


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